Лазерный анализатор элементного состава LEA-S500®

Другие возможности

В данном разделе рассматриваются виды анализа, требующие существенных материальных и временных затрат при использовании других методов анализа.

SOL instruments: спектрометр, рамановский микроскоп, эмиссионный спектрометр. fig1 trubka 320x250

Включение в трубке медицинского стекла (фото)

SOL instruments: спектрометр, рамановский микроскоп, эмиссионный спектрометр. fig2 trubka-monitor 320x250

Включение в трубке медицинского стекла
(вид с экрана монитора) LEA-S500, х100

Дефектоскопия. Анализ состава включений и структурных составляющих. Дефект материала – это локальное изменение химического состава материала, влияющее на его свойства. Дефектоскопия проводится сличением спектров чистого стекла и дефекта. Система позиционирования Анализатора LEA-S500 обеспечивает точность наведения на дефект 1 мкм. Размеры дефекта должны быть не менее 5 мкм для качественного анализа, 150 мкм для количественного анализа. В иллюстрируемом примере, включение циркония свидетельствует о разрушении огнеупорной кладки стекловаренной печи. Раннее диагностирование процессов разрушения позволяет принять своевременные профилактические меры и избежать дорогостоящих восстановительных работ. Время анализа не более 2 минут.		Спектр дефекта и чистого стекла
Распределение элементов по поверхности, однородности (гомогенности) Контроль распределения элементов по поверхности материалов позволяет получить новые сведения об исследуемых пробах. Анализатор LEA-S500 обеспечивает высокую точность, скорость и малую стоимость такого анализа. Позволяет проводить исследования материалов с шагом от 100 мкм. Данный вид анализа рекомендуется для спецификации однородности при сертификации стандартных образцов состава и свойств материала.		Карта концентрации элемента на поверхности образца
Послойный анализ Последовательное испарение материала пробы сфокусированными лазерными импульсами обеспечивает возможность выполнения элементного анализа состава и толщины многослойных покрытий и тонких пленок. Исследованию могут быть подвергнуты налеты, коррозионные области, участки с нарушенной структурой, композиционные материалы и т.д.		Анализ зеркальной поверхности, площадь 2х2 мм с шагом 100 мкм, 400 точек

Лазерный анализатор элементного состава LEA-S500®

Другие возможности

В данном разделе рассматриваются виды анализа, требующие существенных материальных и временных затрат при использовании других методов анализа.

Распределение элементов по поверхности, однородности (гомогенности)

Послойный анализ