Лазерный анализатор элементного состава LEA-S500®

Измерение массовой доли (концентрации) химических элементов или их соединений (оксидов) в анализируемой пробе с минимальной пробоподготовкой
Экспрессный многоэлементный анализ
Полный анализ химического состава за одно измерение
Высокая чувствительность и прецизионность измерений в широком диапазоне концентраций
Не требуется изменение агрегатного состояния проб
Анализ проб в заданных точках (областях) поверхности с помощью систем позиционирования и видеонаблюдения
Послойный анализ покрытий, пленок, налетов, коррозий
Анализ состава включений, пороков, дефектов
Анализ распределения элементов в пробе с шагом от 30 мкм. Построение карт распределения элементов по поверхности и глубине
Не требуются особо чистые реактивы для пробоподготовки
Не требуются дорогостоящие расходные материалы
Не требуется инертный газ для решения большинства задач
Осуществляется очистка загрязненных поверхностей проб предварительными импульсами лазера
Универсальность: прибор не требует переналадки или модернизации для решения всех перечисленных задач
Анализ токопроводящих и токонепроводящих материалов
Анализ проволоки любого диаметра, шариков, цилиндрических деталей без дополнительной обработки с помощью адаптеров (включены в комплект поставки)
Удобство и абсолютная безопасность работы и технического обслуживания
Полная защита персонала от воздействия вредных факторов